1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 08.01.87 N 15
2. ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
3. СРОК ПРОВЕРКИ - 1992 г.
4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
5. ПЕРЕИЗДАНИЕ. Ноябрь 1987 г.
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества интегральных микросхем, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития этой группы, государственный стандарт с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ).
1. Номенклатура показателей качества интегральных микросхем приведена в табл.1.
| Наименование показателя качества
| Обозначение показателя качества
| Наименование характеризуемого свойства
|
1. ПОКАЗАТЕЛИ НАЗНАЧЕНИЯ |
| 1.1. Амплитуда импульсов выходного напряжения, В
| ; 
| -
|
| 1.2. Апертурная задержка, нс
| 
| Точность преобразования
|
| 1.3. Верхняя граничная частота полосы пропускания (ГОСТ 19480-74), кГц
| 
| -
|
| 1.4. Время включения (выключения), мкс
| ( )
| Быстродействие
|
| 1.5. Время выборки (ГОСТ 19480-74), мкс
| 
| Быстродействие
|
| 1.6. Время задержки импульса (ГОСТ 19480-74), нс
| 
| Быстродействие
|
| 1.7. Время задержки распространения сигнала при включении (ГОСТ 19480-74), нс
| 
| Быстродействие
|
| 1.8. Время выполнения операции, мкс
| -
| Быстродействие
|
| 1.9. Время преобразования (для аналого-цифровых преобразователей - АЦП), мкс
|  | Быстродействие
|
| 1.10. Время установления выходного напряжения (для цифро-аналоговых преобразователей (ЦАП) с выходом по напряжению) (ГОСТ 19480-74), мкс
|  | Быстродействие
|
| 1.11. Время установления выходного тока (дли ЦАП с выходом по току), мкс
|  | Быстродействие
|
| 1.12. Время хранения информации (для репрограммируемых постоянных запоминающих устройств (РПЗУ) (ГОСТ 19480-74), ч
| 
| -
|
| 1.13. Время цикла (ГОСТ 19480-74), нс
| 
| Быстродействие
|
| 1.14. Входное напряжение (ГОСТ 19480-74), В
| 
| -
|
| 1.15. Входное напряжение высокого уровня (ГОСТ 19480-74), В
| 
| -
|
| 1.16. Входное напряжение низкого уровня (ГОСТ 19480-74), В
| 
| -
|
| 1.17. Выходное напряжение (ГОСТ 19480-74), В
| 
| -
|
| 1.18. Выходное напряжение высокого уровня (ГОСТ 19480-74), В
| 
| -
|
| 1.19 Выходное напряжение низкого уровня (ГОСТ 19480-74), В
| 
| -
|
| 1.20 Выходная мощность (ГОСТ 19480-74), Вт
| 
| -
|
| 1.21. Входной ток (ГОСТ 19480-74), нА
| 
| -
|
| 1.22. Выходной ток (ГОСТ 19480-74), А
| 
| -
|
| 1.23. Диапазон автоматической регулировки усиления (ГОСТ 19480-74), дБ
| 
| Автоматическое изменение коэффициента усиления
|
| 1.24. Длительность импульсов выходного напряжения, мкс
| 
| -
|
| 1.25. Длительность фронта (среза) импульсов выходного напряжения, мкс
| 
| -
|
| 1.26. Дифференциальная нелинейность ЦАП (АЦП)
| 
| Точность преобразования
|
| 1.27. Допустимое отклонение емкости от номинального значения, %
| 
| -
|
| 1.28. Допустимое отклонение сопротивления от номинального значения, %
| 
| -
|
| 1.29. Интегральная световая чувствительность, В·лк
| 
| Способность светового восприятия
|
| 1.30. Информационная емкость оперативных запоминающих устройств (ОЗУ), бит
| 
| -
|
| 1.31. Информационная емкость постоянных запоминающих устройств (ПЗУ), бит
| 
| -
|
| 1.32. Информационная емкость управляемой памяти, Кбит
| -
| -
|
| 1.33. Информационная емкость, бит
| 
| -
|
| 1.34. Число вводов
| 
| -
|
| 1.35. Число вводов/выводов
| 
| -
|
| 1.36. Число выводов
| 
| -
|
| 1.37. Число команд
| 
| Функциональные возможности
|
| 1.38. Число разрядов в информационном слове;
|  | Формат информации
|
| число разрядов для ЦАП и АЦП
|  | - |
| 1.39. Число информационных слов
| 
| Формат информации
|
| 1.40. Число циклов перепрограммирования (для РПЗУ)
| 
| Многократность изменения информации
|
| 1.41. Число элементов задержки
| 
| Время задержки
|
| 1.42. Число элементов разложения
| 
| Разрешающая способность
|
| 1.43. Время задержки распространения сигнала при выключении (ГОСТ 19480-74), нс
| 
| Быстродействие
|
| 1.44. Коммутируемое напряжение, В
| 
| -
|
| 1.45. Коммутируемый ток, А
| 
| - |
| 1.46. Коэффициент гармоник (ГОСТ 19480-74), % | 
| Нелинейные искажения выходного сигнала
|
| 1.47. Коэффициент деления частоты (ГОСТ 19480-74)
| 
| -
|
| 1.48. Полоса пропускания (ГОСТ 19480-74), кГц
| 
| Работоспособность в заданном диапазоне частот
|
| 1.49. Коэффициент ослабления синфазных входных напряжений (ГОСТ 19480-74), дБ
| 
| Способность подавлять синфазные сигналы
|
| 1.50. Коэффициент усиления напряжения (ГОСТ 19480-74)
| 
| -
|
| 1.51. Коэффициент шума, дБ
| 
| -
|
| 1.52. Напряжение смещения нуля (ГОСТ 19480-74), мВ
| 
| -
|
| 1.53. Нелинейность ЦАП (АЦП), %
| 
| Точность преобразования
|
| 1.54. Нестабильность по напряжению, %
| 
| -
|
| 1.55. Нестабильность по току, %
| 
| -
|
| 1.56. Нижняя граничная частота полосы пропускания (ГОСТ 19480-74), кГц
| 
| -
|
| 1.57. Номинальное значение емкости, пФ
| 
| -
|
| 1.58. Номинальное значение сопротивления, Ом
| 
| -
|
| 1.59. Остаточное напряжение (ГОСТ 19480-74), мВ
| 
| Точность преобразования
|
| 1.60. Относительная погрешность перемножения, %
| 
|
|
| 1.61. Погрешность преобразования, %
| 
|
|
| 1.62. Пороговое напряжение, мВ
| 
| |
| 1.63. Порядок фильтра
| 
| Крутизна спада амплитудно-частотной характеристики
|
| 1.64. Приведенное ко входу напряжение шумов (ГОСТ 19480-74), мВ
| 
| -
|
| 1.65. Разность входных токов (ГОСТ 19480-74), нА
|  | -
|
| 1.66. Рассеиваемая мощность, мВт
| 
| -
|
| 1.67. Рабочее напряжение, В
| 
| -
|
| 1.68. Скорость изменения выходного напряжения в режиме хранения, мВ·мс
| 
| Сохраняемость сигнала
|
| 1.69. Скорость нарастания выходного напряжения (ГОСТ 19480-74), В·мкс
| 
| Быстродействие
|
| 1.70. Сопротивление в открытом состоянии, Ом
| 
| -
|
| 1.71. Спектральная плотность шумов, нВ·Гц
| 
| -
|
| 1.72. Температурный коэффициент напряжения смещения нуля, мкВ·°С
| 
| -
|
| 1.73. Температурный коэффициент разности входных токов, нА·°С
| 
| -
|
| 1.74*. Тепловое сопротивление кристалл-корпус, °С/Вт
| 
| -
|
| 1.75. Максимальная температура кристалла, °С
| 
| -
|
| 1.76. Частота входного сигнала, кГц
| 
| -
|
| 1.77. Частота выходного сигнала, кГц
| 
| -
|
| 1.78. Частота генерирования (ГОСТ 19480-74), кГц
| 
| -
|
| 1.79. Частота коммутации, кГц
| 
| -
|
| 1.80. Частота синхронизации, МГц
| 
| -
|
| 1.81. Частота следования импульсов тактовых сигналов (ГОСТ 19480-74), МГц
| 
| -
|
2. ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ |
| 2.1. Интенсивность отказов в течение наработки:
| 
| Долговечность
|
| интенсивность отказов (ГОСТ 25359-82), ч
| 
| Безотказность
|
| 2.2. Наработка (ГОСТ 25359-82), ч
| 
| Долговечность
|
| 2.3. Гамма-процентный срок сохраняемости (ГОСТ 21493-76), лет
|  | Сохраняемость
|
3. ПОКАЗАТЕЛИ ЭКОНОМНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ЭНЕРГИИ |
| 3.1. Потребляемая мощность; потребляемый ток (ГОСТ 19480-74), мВт, мА
| ; 
| -
|
| 3.2. Потребляемая мощность на основной логический элемент, мВт
| 
| -
|
| 3.3. Удельная энергоемкость, мВт/шт·ч
| 
| -
|
4. ПОКАЗАТЕЛИ ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ |
| 4.1. Технологический выход годных изделий, %
| 
| -
|
| 4.2. Трудоемкость на 1000 шт, нормо-ч
|
| -
|
| 4.3. Коэффициент использования дефицитных материалов
| 
| -
|
| 4.4. Коэффициент использования драгоценных материалов
| 
| -
|
5. ПОКАЗАТЕЛИ СТАНДАРТИЗАЦИИ И УНИФИКАЦИИ |
| 5.1. Коэффициент применяемости конструкции, %
| 
| -
|
6. ПОКАЗАТЕЛИ ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ |
| 6.1. Показатель патентной защиты
| 
| -
|
| 6.2. Показатель патентной чистоты
| 
| -
|
7. ПОКАЗАТЕЛИ ОБЪЕМНО-ВЕСОВЫЕ |
| 7.1. Объем, мм
| 
| -
|
| 7.2. Масса, г
| 
| -
|
| 7.3. Степень интеграции
| -
| Количество элементов
|
| 7.4. Удельная материалоемкость, г/(шт·ч)
| 
| -
|
8. ПОКАЗАТЕЛИ СТОЙКОСТИ К ВНЕШНИМ ВОЗДЕЙСТВУЮЩИМ ФАКТОРАМ |
| 8.1. Повышенная рабочая температура, °С
| 
| -
|
| 8.2. Пониженная рабочая температура, °С
| 
| -
|
1. Основные показатели качества выделены полужирным шрифтом.
2. Обозначение стандарта, в соответствии с которым приведено наименование показателя качества, указано в скобках.
1.2. Алфавитный перечень показателей качества интегральных микросхем приведен в справочном приложении 1, пояснения и примеры применения показателей качества - в справочном приложении 2.
2.1. Перечень основных показателей качества
Основные показатели качества интегральных микросхем по подгруппам однородной продукции должны соответствовать приведенным в табл.1.
2.2. Применяемость показателей качества по подгруппам однородной продукции приведена в табл.2, показателей, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития интегральных микросхем, государственные стандарты с перспективными требованиями (ГОСТ ОТТ), в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ), - в табл.3.