1. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 08.01.87 N 15
2. ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
3. СРОК ПРОВЕРКИ - 1992 г.
4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
5. ПЕРЕИЗДАНИЕ. Ноябрь 1987 г.
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества интегральных микросхем, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития этой группы, государственный стандарт с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ).
1. Номенклатура показателей качества интегральных микросхем приведена в табл.1.
Наименование показателя качества
| Обозначение показателя качества
| Наименование характеризуемого свойства
|
1. ПОКАЗАТЕЛИ НАЗНАЧЕНИЯ |
1.1. Амплитуда импульсов выходного напряжения, В
| ;
| -
|
1.2. Апертурная задержка, нс
|
| Точность преобразования
|
1.3. Верхняя граничная частота полосы пропускания (ГОСТ 19480-74), кГц
|
| -
|
1.4. Время включения (выключения), мкс
| ()
| Быстродействие
|
1.5. Время выборки (ГОСТ 19480-74), мкс
|
| Быстродействие
|
1.6. Время задержки импульса (ГОСТ 19480-74), нс
|
| Быстродействие
|
1.7. Время задержки распространения сигнала при включении (ГОСТ 19480-74), нс
|
| Быстродействие
|
1.8. Время выполнения операции, мкс
| -
| Быстродействие
|
1.9. Время преобразования (для аналого-цифровых преобразователей - АЦП), мкс
| | Быстродействие
|
1.10. Время установления выходного напряжения (для цифро-аналоговых преобразователей (ЦАП) с выходом по напряжению) (ГОСТ 19480-74), мкс
| | Быстродействие
|
1.11. Время установления выходного тока (дли ЦАП с выходом по току), мкс
| | Быстродействие
|
1.12. Время хранения информации (для репрограммируемых постоянных запоминающих устройств (РПЗУ) (ГОСТ 19480-74), ч
|
| -
|
1.13. Время цикла (ГОСТ 19480-74), нс
|
| Быстродействие
|
1.14. Входное напряжение (ГОСТ 19480-74), В
|
| -
|
1.15. Входное напряжение высокого уровня (ГОСТ 19480-74), В
|
| -
|
1.16. Входное напряжение низкого уровня (ГОСТ 19480-74), В
|
| -
|
1.17. Выходное напряжение (ГОСТ 19480-74), В
|
| -
|
1.18. Выходное напряжение высокого уровня (ГОСТ 19480-74), В
|
| -
|
1.19 Выходное напряжение низкого уровня (ГОСТ 19480-74), В
|
| -
|
1.20 Выходная мощность (ГОСТ 19480-74), Вт
|
| -
|
1.21. Входной ток (ГОСТ 19480-74), нА
|
| -
|
1.22. Выходной ток (ГОСТ 19480-74), А
|
| -
|
1.23. Диапазон автоматической регулировки усиления (ГОСТ 19480-74), дБ
|
| Автоматическое изменение коэффициента усиления
|
1.24. Длительность импульсов выходного напряжения, мкс
|
| -
|
1.25. Длительность фронта (среза) импульсов выходного напряжения, мкс
|
| -
|
1.26. Дифференциальная нелинейность ЦАП (АЦП)
|
| Точность преобразования
|
1.27. Допустимое отклонение емкости от номинального значения, %
|
| -
|
1.28. Допустимое отклонение сопротивления от номинального значения, %
|
| -
|
1.29. Интегральная световая чувствительность, В·лк
|
| Способность светового восприятия
|
1.30. Информационная емкость оперативных запоминающих устройств (ОЗУ), бит
|
| -
|
1.31. Информационная емкость постоянных запоминающих устройств (ПЗУ), бит
|
| -
|
1.32. Информационная емкость управляемой памяти, Кбит
| -
| -
|
1.33. Информационная емкость, бит
|
| -
|
1.34. Число вводов
|
| -
|
1.35. Число вводов/выводов
|
| -
|
1.36. Число выводов
|
| -
|
1.37. Число команд
|
| Функциональные возможности
|
1.38. Число разрядов в информационном слове;
| | Формат информации
|
число разрядов для ЦАП и АЦП
| | - |
1.39. Число информационных слов
|
| Формат информации
|
1.40. Число циклов перепрограммирования (для РПЗУ)
|
| Многократность изменения информации
|
1.41. Число элементов задержки
|
| Время задержки
|
1.42. Число элементов разложения
|
| Разрешающая способность
|
1.43. Время задержки распространения сигнала при выключении (ГОСТ 19480-74), нс
|
| Быстродействие
|
1.44. Коммутируемое напряжение, В
|
| -
|
1.45. Коммутируемый ток, А
|
| - |
1.46. Коэффициент гармоник (ГОСТ 19480-74), % |
| Нелинейные искажения выходного сигнала
|
1.47. Коэффициент деления частоты (ГОСТ 19480-74)
|
| -
|
1.48. Полоса пропускания (ГОСТ 19480-74), кГц
|
| Работоспособность в заданном диапазоне частот
|
1.49. Коэффициент ослабления синфазных входных напряжений (ГОСТ 19480-74), дБ
|
| Способность подавлять синфазные сигналы
|
1.50. Коэффициент усиления напряжения (ГОСТ 19480-74)
|
| -
|
1.51. Коэффициент шума, дБ
|
| -
|
1.52. Напряжение смещения нуля (ГОСТ 19480-74), мВ
|
| -
|
1.53. Нелинейность ЦАП (АЦП), %
|
| Точность преобразования
|
1.54. Нестабильность по напряжению, %
|
| -
|
1.55. Нестабильность по току, %
|
| -
|
1.56. Нижняя граничная частота полосы пропускания (ГОСТ 19480-74), кГц
|
| -
|
1.57. Номинальное значение емкости, пФ
|
| -
|
1.58. Номинальное значение сопротивления, Ом
|
| -
|
1.59. Остаточное напряжение (ГОСТ 19480-74), мВ
|
| Точность преобразования
|
1.60. Относительная погрешность перемножения, %
|
|
|
1.61. Погрешность преобразования, %
|
|
|
1.62. Пороговое напряжение, мВ
|
| |
1.63. Порядок фильтра
|
| Крутизна спада амплитудно-частотной характеристики
|
1.64. Приведенное ко входу напряжение шумов (ГОСТ 19480-74), мВ
|
| -
|
1.65. Разность входных токов (ГОСТ 19480-74), нА
| | -
|
1.66. Рассеиваемая мощность, мВт
|
| -
|
1.67. Рабочее напряжение, В
|
| -
|
1.68. Скорость изменения выходного напряжения в режиме хранения, мВ·мс
|
| Сохраняемость сигнала
|
1.69. Скорость нарастания выходного напряжения (ГОСТ 19480-74), В·мкс
|
| Быстродействие
|
1.70. Сопротивление в открытом состоянии, Ом
|
| -
|
1.71. Спектральная плотность шумов, нВ·Гц
|
| -
|
1.72. Температурный коэффициент напряжения смещения нуля, мкВ·°С
|
| -
|
1.73. Температурный коэффициент разности входных токов, нА·°С
|
| -
|
1.74*. Тепловое сопротивление кристалл-корпус, °С/Вт
|
| -
|
1.75. Максимальная температура кристалла, °С
|
| -
|
1.76. Частота входного сигнала, кГц
|
| -
|
1.77. Частота выходного сигнала, кГц
|
| -
|
1.78. Частота генерирования (ГОСТ 19480-74), кГц
|
| -
|
1.79. Частота коммутации, кГц
|
| -
|
1.80. Частота синхронизации, МГц
|
| -
|
1.81. Частота следования импульсов тактовых сигналов (ГОСТ 19480-74), МГц
|
| -
|
2. ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ |
2.1. Интенсивность отказов в течение наработки:
|
| Долговечность
|
интенсивность отказов (ГОСТ 25359-82), ч
|
| Безотказность
|
2.2. Наработка (ГОСТ 25359-82), ч
|
| Долговечность
|
2.3. Гамма-процентный срок сохраняемости (ГОСТ 21493-76), лет
| | Сохраняемость
|
3. ПОКАЗАТЕЛИ ЭКОНОМНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ЭНЕРГИИ |
3.1. Потребляемая мощность; потребляемый ток (ГОСТ 19480-74), мВт, мА
| ;
| -
|
3.2. Потребляемая мощность на основной логический элемент, мВт
|
| -
|
3.3. Удельная энергоемкость, мВт/шт·ч
|
| -
|
4. ПОКАЗАТЕЛИ ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ |
4.1. Технологический выход годных изделий, %
|
| -
|
4.2. Трудоемкость на 1000 шт, нормо-ч
|
| -
|
4.3. Коэффициент использования дефицитных материалов
|
| -
|
4.4. Коэффициент использования драгоценных материалов
|
| -
|
5. ПОКАЗАТЕЛИ СТАНДАРТИЗАЦИИ И УНИФИКАЦИИ |
5.1. Коэффициент применяемости конструкции, %
|
| -
|
6. ПОКАЗАТЕЛИ ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ |
6.1. Показатель патентной защиты
|
| -
|
6.2. Показатель патентной чистоты
|
| -
|
7. ПОКАЗАТЕЛИ ОБЪЕМНО-ВЕСОВЫЕ |
7.1. Объем, мм
|
| -
|
7.2. Масса, г
|
| -
|
7.3. Степень интеграции
| -
| Количество элементов
|
7.4. Удельная материалоемкость, г/(шт·ч)
|
| -
|
8. ПОКАЗАТЕЛИ СТОЙКОСТИ К ВНЕШНИМ ВОЗДЕЙСТВУЮЩИМ ФАКТОРАМ |
8.1. Повышенная рабочая температура, °С
|
| -
|
8.2. Пониженная рабочая температура, °С
|
| -
|
1. Основные показатели качества выделены полужирным шрифтом.
2. Обозначение стандарта, в соответствии с которым приведено наименование показателя качества, указано в скобках.
1.2. Алфавитный перечень показателей качества интегральных микросхем приведен в справочном приложении 1, пояснения и примеры применения показателей качества - в справочном приложении 2.
2.1. Перечень основных показателей качества
Основные показатели качества интегральных микросхем по подгруппам однородной продукции должны соответствовать приведенным в табл.1.
2.2. Применяемость показателей качества по подгруппам однородной продукции приведена в табл.2, показателей, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития интегральных микросхем, государственные стандарты с перспективными требованиями (ГОСТ ОТТ), в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ), - в табл.3.